生產過程控制被認為是太陽能產業(yè)的一個關鍵的成功因素。不過，這僅僅是有助于取得成功的有利條件的一部分：為了全面優(yōu)化生產并降低成本，生產商必須采取進一步措施以保證只加工無缺陷的材料。

　　為了切實避免耗材的浪費和缺陷產品時間上的浪費，需要對每一個相關硅片的特性進行全面的在線檢測。YIELDMASTER PL–Wafer是ISRA VISION和GP Solar推出的新一代非接觸式光致發(fā)光檢測系統(tǒng)，為太陽能硅片提供高精度、高速度的質量保證。憑借其先進的技術特點，該系統(tǒng)可以準確預測基于原始硅片分析的電池效率。由于只需投資于加工良好的硅片，操作者大大降低了生產成本。

　　YIELDMASTER PL–Wafer采用光致發(fā)光技術。與電致發(fā)光系統(tǒng)相反，檢測和效率測量是無觸點進行的。這樣就避免了電子接觸裝置引起的裂痕、破損和其他常見缺陷。該創(chuàng)新性方案憑借基于光致發(fā)光的完整區(qū)域(最大范圍170mmx170mm)的均質照明，提供了缺陷檢測和分類的最佳性能。YIELDMASTER PL–Wafer能可靠地識別包括晶體缺陷、邊緣雜質和背景污染在內的各種缺陷。特殊影像過濾技術能夠自動識別臨界和非臨界缺陷。與傳統(tǒng)的光致發(fā)光法相比，顯像時間縮短到八分之一。此外，不需要專門的硅片定位。這樣，每小時可檢測3,600多個硅片。

　　YIELDMASTER PL–Wafer出色的效率預測功能進一步顯示了該系統(tǒng)的創(chuàng)新能力。在單晶硅片或多晶硅片的測量結果基礎上，生產商可以預估成品電池的效率。每一個樣本都基于可能的缺陷和預測的效率水平，接受自動計算的質量分級。劣質硅片被自動識別并淘汰出生產線，從而極大地節(jié)省了成本。

　　當不合格材料被持續(xù)阻止進入下一道工序時，產量和產品性能得到極大提高，因為資源只被用于無缺陷的產品。該技術有助于識別可能通過進一步加工而循環(huán)到合格部件的某些硅片。該系統(tǒng)連續(xù)記錄檢測數據，使生產商可以根據記錄的質量識別出劣質材料并從供應商那里得到補償。

　　操作靈活性是YIELDMASTER PL–Wafer系統(tǒng)的另一重要優(yōu)點。其模組化的結構便于與新的、現有的生產線集成在一起。循環(huán)時間一般少于1秒鐘。

　　ISRA和GP Solar創(chuàng)新的光致發(fā)光檢測技術為太陽能產業(yè)提供了全面的硅片質量評估的有效方法。同時，生產過程得到優(yōu)化，效率達到最高。這為最低的持有成本、增強的產品質量和最高的產量提供了新的機會。